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薄膜測厚儀
更新時間：
2024-06-04
型號：
瀏覽量：
3452
薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
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